González Rios, Jorge Luis, CIME, CUJAE, Cuba

• Revista Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones ISSN: 1815-5928 Vol. 37 Núm. 1 (2016) - Artículos
  Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido
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