Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido
GONZÁLEZ RIOS, Jorge Luis et al.
Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido.
Revista Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones ISSN: 1815-5928, [S.l.], v. 37, n. 1, p. 1-8, may 2016.
ISSN 1815-5928.
Disponible en: <http://rielac.cujae.edu.cu/index.php/rieac/article/view/396>. Fecha de acceso: 16 nov. 2019